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介質損耗和介電常數是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復合材料等的一項重要的物理性質，通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數(ε)，可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素，為提高材料的性能提供依據；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。

空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。 印電路板主要由玻纖與環氧樹脂組成的, 玻纖介電常數為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會造成介電特性的偏差, 傳統測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 10 mil) 量測值偏低,。

介質損耗因數試驗儀/介電常數測試儀 滿足標準：GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗因數的推薦方法

主營工頻介電常數介質損耗測試儀主要用于測量高壓工業絕緣材料的介質損失角的正切值及電容量。其采用了西林電橋的經典線路。

RS232 儀器具有RS232接口，與計算機連接便于數據的統計和處理及保存。

本儀器優質，無可挑剔。

儀器*符合并優于國家標準GB1410《固體電工絕緣材料絕緣電阻、體積電阻系數和表面電阻試驗方法》和美國標準ASTM D257《絕緣材料的直流電阻或電導試驗方法》等標準的要求。本儀器是既可測量高電阻，又可測微電流。

主要技術特性：介質損耗和介電常數是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復合材料等的一項重要的物理性質，通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數(ε)，可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素，為提高材料的性能提供依據；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。

介電常數測量儀電容率測試儀之比。對于電抗元件（電感或電容）來說，即在測試頻率上呈現的電抗與電阻之比。它以89C51單片計算機作為控制核心，實現對各種功能的控制。壓控信號源為Q值測量提供了一個優質的高頻信號，頻率從25kHz-50MHz，共分為七個波段。信號源的頻率受頻率調諧和數字鎖定單元的控制。信號源輸出一路送到程控衰減器和自動穩幅控制單元，該單元根據CPU的指令對信號衰減后送回信號激勵單元，同時